189-2612-1210
透反射明暗場金相顯微鏡MJ33
透反射明暗場金相顯微鏡MJ33是多用途工業檢驗用光學儀器,配置明暗場物鏡、大視野目鏡與簡易偏光觀察,能提供清晰、大視野的明場、暗場和偏光成像觀察,并可疊加擴展熒光。
可擴展的無限遠光學系統
支持明場、暗場、偏光觀察,可選DIC觀察
標準科勒照明
采用無限遠光學系統,切換不同光路不同觀察方式不會有倍率差異,可擴展數顯LED熒光模塊實現材料學研究觀察需要。
搭配明暗場物鏡,支持透反射明場觀察、反射暗場觀察和簡易偏光觀察,還可選配DIC觀察配置。
標準科勒照明系統,更方便維護調試,取得更佳成像效果,可用于半導體硅晶片、LCD基板、電路板、固體粉末及其它各種透明或不透明工業試樣的檢驗,是生物學、金屬學、礦物學、精密工程學、電子工程學等研究的理想儀器。
巖石表面涂層
光纖
實拍樣品3
MJ33彩頁
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